產(chǎn)品綜述：
　　微波矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀是四十所在多年研制經(jīng)驗(yàn)和積累基礎(chǔ)上推出的款新品，可滿足微波網(wǎng)絡(luò)日益增長的測試需求。整機(jī)具有快速掃描、大動(dòng)態(tài)范圍、低跡線噪聲和穩(wěn)定性等點(diǎn)，采用嵌入式計(jì)算機(jī)模塊和Windows操作系統(tǒng)組成的軟硬件平臺、度集成的激勵(lì)信號模塊和四通道幅相混頻接收模塊、能強(qiáng)大的誤差修正校準(zhǔn)軟件，可實(shí)現(xiàn)45MHz～20GHz頻率范圍內(nèi)網(wǎng)絡(luò)S參數(shù)的快速、測量，廣泛應(yīng)用于元器件、雷達(dá)、航天、通信等域。

主要點(diǎn)：
　　◆ 具有頻響、單端口、響應(yīng)隔離、雙二端口SOLT、雙二端口TRL校準(zhǔn)等多種校準(zhǔn)方式
　　◆ 具有對數(shù)幅度、線性幅度、駐波、相位、群延時(shí)、Smith圓圖、坐標(biāo)等多種顯示格式
　　◆ 具有多達(dá)32個(gè)顯示窗口，每個(gè)窗口同時(shí)顯示多達(dá)8條軌跡
　　◆ 具有USB、GPIB、LAN、標(biāo)準(zhǔn)并口和VGA顯示接口
　　◆ Windows XP操作系統(tǒng)，中文菜單，兼?zhèn)溆⑽牟藛芜x項(xiàng)
　　◆ 系統(tǒng)動(dòng)態(tài)范圍大
　　◆ 率掃描范圍寬
　　◆ 8.4英寸真彩色分辨率LCD顯示
　　◆ 具有多種選件：時(shí)域測量選件、源通道內(nèi)置程控衰減器選件、測試裝置可配置選件

直觀的用戶界面便于操作，還可提測試效率
　　利用面板按鍵、鼠標(biāo)或兩者的組合可有效引導(dǎo)分析儀的使用，在Windows環(huán)境下操作快速、直觀，提了作效率。
 

大動(dòng)態(tài)范圍
　　采用基波混頻提了動(dòng)態(tài)范圍，可滿足用戶不斷增長的測試需求。
 

率掃描
　　率掃描范圍達(dá)25dB，會同源通道衰減器選件可方便測量和表征放大器的增益壓縮性。
 

外設(shè)接口豐富，靈活實(shí)用
　　采用兼容PC的嵌入式計(jì)算機(jī)模塊和Windows操作系統(tǒng)組成的軟硬件平臺，實(shí)現(xiàn)了測試儀器和個(gè)人計(jì)算機(jī)的結(jié)合。用戶可以利用豐富的I/O接口，包括GPIB、USB、LAN和并行接口，實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)通訊的選擇。
 

跡線噪聲小，提測量度
　　跡線噪聲小，大大提了測試度，可滿足用戶測量的需要，別有助于小插損器件的測量。
 

校準(zhǔn)類型靈活可選，兼容多種校準(zhǔn)件
　　具有響應(yīng)校準(zhǔn)、響應(yīng)與隔離校準(zhǔn)、單端口校準(zhǔn)、雙端口SOLT校準(zhǔn)、雙端口TRL校準(zhǔn)等多種校準(zhǔn)類型，可選擇同軸3.5mm校準(zhǔn)件、N型校準(zhǔn)件以及波導(dǎo)等多種校準(zhǔn)件，方便不同接口器件的測試。
 

多窗口顯示所有測量通道
　　具有多通道和多窗口顯示能，可實(shí)現(xiàn)多條掃描曲線的同時(shí)顯示，結(jié)果觀測更加直觀，使用更加方便。多支持64個(gè)通道，多可同時(shí)顯示32個(gè)測量窗口，每個(gè)窗口多顯示8條軌跡。
 

自動(dòng)化測試在測試過程中可節(jié)省大量時(shí)間，利用靈活的自動(dòng)化環(huán)境能夠有效降低測試成本：
　　利用SCPI命令對矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀行控制，成自動(dòng)化測試
　　直接從矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀或外PC機(jī)通過LAN或GPIB接口執(zhí)行代碼，網(wǎng)絡(luò)分析儀可作為測試系統(tǒng)主控機(jī)
　　應(yīng)用程序可直接在網(wǎng)絡(luò)分析儀上運(yùn)行，外PC機(jī)
 

時(shí)域分析可對行面表征
　　時(shí)域測量選件可方便實(shí)現(xiàn)測量結(jié)果頻域和時(shí)域之間的切換，用之確定器件、夾具或者電纜中的不連續(xù)點(diǎn)位置，實(shí)現(xiàn)故障定位。
 

典型應(yīng)用
　　ZS1-AV3629D微波矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀次測量可同時(shí)獲得被測微波網(wǎng)絡(luò)的幅度、相位和群時(shí)延性，其性能和強(qiáng)大測量能可滿足諸多微波網(wǎng)絡(luò)性的測量需求。廣泛應(yīng)用于微波元器件、組件和件的S參數(shù)測試等域。